Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
 
 
  Oxide-scale thickness measurement for predicting crack growth history in elevated temperature components
 
 
Titel: Oxide-scale thickness measurement for predicting crack growth history in elevated temperature components
Auteur: Huneycutt IV, Ralph E.
Saxena, Ashok
Yoon, Kee Bong
Verschenen in: International journal of pressure vessels and piping
Paginering: Jaargang 161 (2018) nr. C pagina's 1-9
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 8 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland