Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 51 van 52 gevonden artikelen
 
 
  Undeformed chip width non-uniformity modeling and surface roughness prediction in wafer self-rotational grinding process
 
 
Titel: Undeformed chip width non-uniformity modeling and surface roughness prediction in wafer self-rotational grinding process
Auteur: Tao, Hongfei
Liu, Yuanhang
Zhao, Dewen
Lu, Xinchun
Verschenen in: Tribology international
Paginering: Jaargang 171 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 51 van 52 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland