|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 101 gevonden artikelen
| Titel: |
An oversampling method for wafer map defect pattern classification considering small and imbalanced data |
| Auteur: |
Kim, Eun-Su Choi, Seung-Hyun Lee, Dong-Hee Kim, Kwang-Jae Bae, Young-Mok Oh, Young-Chan |
| Verschenen in: |
Computers & industrial engineering |
| Paginering: | Jaargang 162 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 101 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |