|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 52 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Profile surface roughness measurement using metrological atomic force microscope and uncertainty evaluation |
| Auteur: |
Misumi, Ichiko Naoi, Kazuya Sugawara, Kentaro Gonda, Satoshi |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 73 (2015) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 52 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |