|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet transform |
| Auteur: |
Angrisani, L. Bechou, L. Dallet, D. Daponte, P. Ousten, Y. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 31 (2002) nr. 2 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |