|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
An weak surface defect inspection approach using efficient multi-scale attention and space-to-depth convolution network |
| Auteur: |
Fu, Guizhong Chen, Jiaao Qian, Shikang Miao, Jing Li, Jinbin Jiang, Quansheng Zhu, Qixin Shen, Yehu |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 243 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 98 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |