|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
An improved probabilistic diagnosis imaging algorithm for quantifying Hole-edge crack growth |
| Auteur: |
Sun, Hu Hou, Jun Chen, Wei Wang, Yishou Qing, Xinlin |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 215 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |