|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 76 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction studies of residual strain in AlN/sapphire templates |
| Auteur: |
Serafinczuk, J. Pawlaczyk, L. Moszak, K. Pucicki, D. Kudrawiec, R. Hommel, D. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 200 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 76 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |