|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 112 van 117 gevonden artikelen
| Titel: |
Transition imaging phase measuring deflectometry for high-precision measurement of optical surfaces |
| Auteur: |
Chen, Yunuo Zhang, Xiangchao Chen, Ting Zhu, Rui Ye, Lu Lang, Wei |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 199 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 112 van 117 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |