|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 83 gevonden artikelen
| Titel: |
System level reliability assessment for high power light-emitting diode lamp based on a Bayesian network method |
| Auteur: |
Ibrahim, Mesfin Seid Fan, Jiajie Yung, Winco K.C. Jing, Zhou Fan, Xuejun van Driel, Willem Zhang, Guoqi |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 176 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 83 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |