|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 114 gevonden artikelen
| Titel: |
An imaging algorithm of planar array capacitance sensor for defect detection |
| Auteur: |
Zhang, Yuyan Sun, Yurong Wen, Yintang |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 168 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 114 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |