|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Contactless geometric and thickness imperfection measurement system for thin-walled structures |
| Auteur: |
Lyssakow, P. Friedrich, L. Krause, M. Dafnis, A. Schröder, K.U. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 150 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |