|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 85 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of planar flaws by an integrated approach using phased array and synthetic aperture focusing technique |
| Auteur: |
Nanekar, Paritosh Jothilakshmi, N. Kumar, Anish Jayakumar, T. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 147 (2019) nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 85 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |