Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 40 van 71 gevonden artikelen
 
 
  Method for evaluating interfacial resistances of thermoelectric devices using I-V measurement
 
 
Titel: Method for evaluating interfacial resistances of thermoelectric devices using I-V measurement
Auteur: Kim, Dong Hwan
Kim, Cham
Kim, Jong Tae
Yoon, Duck Ki
Kim, Hoyoung
Verschenen in: Measurement
Paginering: Jaargang 129 (2018) nr. C pagina's 281-287
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 40 van 71 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland