|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Interferometric profile scanning system for measuring large planar mirror surface based on single-interferogram analysis using Fourier transform method |
| Auteur: |
Kim, Jong-Ahn Kim, Jae Wan Kang, Chu-Shik Jin, Jonghan Eom, Tae Bong |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 118 (2018) nr. C pagina's 113-119 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |