|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Fine residual stress distribution measurement of steel materials by SOI pixel detector with synchrotron X-rays |
| Auteur: |
Nishimura, Ryutaro Kishimoto, Shunji Sasaki, Toshihiko Mitsui, Shingo Shinya, Masayoshi Arai, Yasuo Miyoshi, Toshinobu |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 978 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |