|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 98 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray response evaluation in subpixel level for X-ray SOI pixel detectors |
| Auteur: |
Negishi, Kousuke Kohmura, Takayoshi Hagino, Kouichi Kogiso, Taku Oono, Kenji Yarita, Keigo Sasaki, Akinori Tamasawa, Koki Go Tsuru, Takeshi Tanaka, Takaaki Matsumura, Hideaki Tachibana, Katsuhiro Hayashi, Hideki Harada, Sodai Mori, Koji Takeda, Ayaki Nishioka, Yusuke Takebayashi, Nobuaki Yokoyama, Shoma Fukuda, Kohei Arai, Yasuo Miyoshi, Toshinobu Kishimoto, Shunji Kurachi, Ikuo |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 924 (2019) nr. C pagina's 462-467 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 98 van 98 gevonden artikelen
| << vorige |