|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 87 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
Study on application of a monolithic SOI pixel detector to residual stress measurement using X-rays |
| Auteur: |
Sasaki, Toshihiko Mitsui, Shingo Shinya, Masayoshi Yanagi, Kayoko Nishimura, Ryutaro Miyoshi, Toshinobu Arai, Yasuo |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 924 (2019) nr. C pagina's 452-456 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 87 van 98 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |