|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 98 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of radiation hardness improvement by applying back-gate bias for FD-SOI MOSFETs |
| Auteur: |
Kurachi, Ikuo Kobayashi, Kazuo Okihara, Masao Kasai, Hiroki Hatsui, Takaki Hara, Kazuhiko Miyoshi, Toshinobu Arai, Yasuo |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 924 (2019) nr. C pagina's 404-408 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 98 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |