Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 14 van 17 gevonden artikelen
 
 
  Single particle transient response and displacement damage in CMOS image sensors induced by high energy neutrons at Back-n in CSNS facility
 
 
Titel: Single particle transient response and displacement damage in CMOS image sensors induced by high energy neutrons at Back-n in CSNS facility
Auteur: Wang, Zujun
Xue, Yuanyuan
Chen, Wei
Ning, Hao
Xu, Rui
Guo, Xiaoqiang
Sheng, Jiangkun
Yao, Zhibin
He, Baoping
Ma, Wuying
Dong, Guantao
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment
Paginering: Jaargang 920 (2019) nr. C pagina's 68-72
Jaar: 2019
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 14 van 17 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland