|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the thickness non-uniformity of the very thin silicon-strip detectors |
| Auteur: |
Liu, Qiang Ye, Yanlin Li, Zhihuan Lin, Chengjian Jia, Huiming Ge, Yucheng Li, Qite Lou, Jianling Yang, Xiaofei Yang, Biao Feng, Jun Zang, Hongliang Chen, Zhiqiang Liu, Yang Liu, Wei Chen, Sidong Yu, Hanzhou Li, Jingjing Zhang, Yun Yang, Feng Yang, Lei Ma, Nanru Sun, Lijie Wang, Dongxi |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 897 () nr. C pagina's 100-105 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |