|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 60 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Soft error evaluation and vulnerability analysis in Xilinx Zynq-7010 system-on chip |
| Auteur: |
Du, Xuecheng He, Chaohui Liu, Shuhuan Zhang, Yao Li, Yonghong Xiong, Ceng Tan, Pengkang |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 831 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 60 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |