|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (ELDRS) tests on advanced SiGe bipolar transistors for very high total dose applications |
| Auteur: |
Ullán, M. Wilder, M. Spieler, H. Spencer, E. Rescia, S. Newcomer, F.M. Martinez-McKinney, F. Kononenko, W. Grillo, A.A. Díez, S. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 724 (2013) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |