|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Charge losses in segmented silicon sensors at the Si–SiO2 interface |
| Auteur: |
Poehlsen, Thomas Fretwurst, Eckhart Klanner, Robert Schuwalow, Sergej Schwandt, Jörn Zhang, Jiaguo |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 700 (2013) nr. C pagina's 18 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |