|
Sub-micron resolution rf cavity beam position monitor system at the SACLA XFEL facility |
|
|
|
Titel: |
Sub-micron resolution rf cavity beam position monitor system at the SACLA XFEL facility |
Auteur: |
Maesaka, H. Ego, H. Inoue, S. Matsubara, S. Ohshima, T. Shintake, T. Otake, Y. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
Paginering: |
Jaargang 696 (2012) nr. C pagina's 9 p. |
Jaar: |
2012 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|