|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of X-ray reflection interface microscopy to thin-film materials |
| Auteur: |
Zhang, Zhan Zschack, Paul Fenter, Paul |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 649 (2011) nr. 1 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |