|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 64 van 111 gevonden artikelen
| Titel: |
Ionization damage in NPN transistors caused by lower energy electrons |
| Auteur: |
Li, Xingji Xiao, Jingdong Liu, Chaoming Zhao, Zhiming Geng, Hongbin Lan, Mujie Yang, Dezhuang He, Shiyu |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 621 () nr. 1-3 pagina's 707-712 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 64 van 111 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |