|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 73 van 119 gevonden artikelen
| Titel: |
Micrometry combined with profile mapping for the absolute measurement of Integrated Column Density (ICD) and for accurate X-ray mass attenuation coefficients using XERT |
| Auteur: |
Islam, M. Tauhidul Rae, Nicholas A. Glover, Jack L. Barnea, Zwi Chantler, Christopher T. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 619 (2010) nr. 1-3 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 73 van 119 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |