|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
In-situ metrology for the optimization of bent crystals used in hard-X-ray monochromators: Comparison between measurement and simulation |
| Auteur: |
Thomasset, Muriel Moreno, Thierry Capitanio, Blandine Idir, Mourad Bucourt, Samuel |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 616 (2010) nr. 2-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |