|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Evolution of surface roughness in silicon X-ray mirrors exposed to a low-energy ion beam |
| Auteur: |
Ziegler, E. Peverini, L. Vaxelaire, N. Cordon-Rodriguez, A. Rommeveaux, A. Kozhevnikov, I.V. Susini, J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 616 (2010) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |