|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Discriminant analysis and secondary-beam charge recognition |
| Auteur: |
Łukasik, J. Adrich, P. Aumann, T. Bacri, C.O. Barczyk, T. Bassini, R. Bianchin, S. Boiano, C. Botvina, A.S. Boudard, A. Brzychczyk, J. Chbihi, A. Cibor, J. Czech, B. Ducret, J.-É. Emling, H. Frankland, J. Hellström, M. Henzlova, D. Immè, G. Iori, I. Johansson, H. Kezzar, K. Lafriakh, A. Le Fèvre, A. Le Gentil, E. Leifels, Y. Lühning, J. Lynch, W.G. Lynen, U. Majka, Z. Mocko, M. Müller, W.F.J. Mykulyak, A. De Napoli, M. Orth, H. Otte, A.N. Palit, R. Pawłowski, P. Pullia, A. Raciti, G. Rapisarda, E. Sann, H. Schwarz, C. Sfienti, C. Simon, H. Sümmerer, K. Trautmann, W. Tsang, M.B. Verde, G. Volant, C. Wallace, M. Weick, H. Wiechula, J. Wieloch, A. Zwiegliński, B. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 587 (2008) nr. 2-3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |