|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 127 gevonden artikelen
| Titel: |
Beam test of a dual layer silicon charge detector (SCD) for the CREAM experiment |
| Auteur: |
Park, N.H. Ahn, H.S. Ganel, O. Han, J.H. Jeon, J.A. Kim, C.H. Kim, K.C. Lutz, L. Lee, M.H. Malinin, A. Nam, S. Park, I.H. Park, J.H. Seo, E.S. Walpole, P. Wu, J. Yang, J. Yoo, J.H. Yoon, Y.S. Zinn, S.Y. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 581 (2007) nr. 1-2 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 127 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |