|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 180 van 183 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray absorption spectroscopy of high-k gate dielectric insulating layers for next-generation semiconductor devices as measured by superconducting detectors |
| Auteur: |
Ohkubo, M. Fons, P. Kushino, A. Chen, Y.E. Ukibe, M. Kitajima, Y. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 559 (2006) nr. 2 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 180 van 183 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |