|
Ion beam induced charge imaging of epitaxial GaN detectors |
|
|
|
Titel: |
Ion beam induced charge imaging of epitaxial GaN detectors |
Auteur: |
Sellin, P.J. Hoxley, D. Lohstroh, A. Simon, A. Cunningham, W. Rahman, M. Vaitkus, J. Gaubas, E. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
Paginering: |
Jaargang 531 (2004) nr. 1-2 pagina's 5 p. |
Jaar: |
2004 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|