|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 183 gevonden artikelen
| Titel: |
Beam-loss-induced electrical stress test on CMS Silicon Strip Modules |
| Auteur: |
Fahrer, M. Dirkes, G. Hartmann, F. Heier, S. Macpherson, A. Müller, Th. Weiler, Th. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 518 (2004) nr. 1-2 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 183 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |