|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 49 gevonden artikelen
| Titel: |
A statistical correction method for minimization of systemic artefact in a continuous-rotate X-ray based industrial CT system |
| Auteur: |
Kumar, Umesh Ramakrishna, G.S. Pendharkar, A.S. Kailas, S. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 515 (2003) nr. 3 pagina's 829-839 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 49 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |