|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of X-ray beam emittance using crystal optics at an X-ray undulator beamline |
| Auteur: |
Kohmura, Yoshiki Suzuki, Yoshio Awaji, Mitsuhiro Tanaka, Takashi Hara, Toru Goto, Shunji Ishikawa, Tetsuya |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 452 (2000) nr. 1-2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |