Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 38 van 38 gevonden artikelen
 
 
  X-ray measurement of the subpixel structure of the XMM EPIC MOS CCD
 
 
Titel: X-ray measurement of the subpixel structure of the XMM EPIC MOS CCD
Auteur: Tsunemi, H
Yoshita, K
Short, A.D
Bennie, P.J
Turner, M.J.L
Abbey, A.F
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment
Paginering: Jaargang 437 (1999) nr. 2-3 pagina's 8 p.
Jaar: 1999
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 38 van 38 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland