|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 93 van 189 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution imaging for charged particles using CR-39 and atomic force microscopy |
| Auteur: |
Takahashi, H Amemiya, K Kaizuka, Y Nakazawa, M Yasuda, N Yamamoto, M Sakai, T Kamiya, T Okada, S |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 422 (1999) nr. 1-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 93 van 189 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |