|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 58 gevonden artikelen
| Titel: |
Damage-induced surface effects in silicon detectors |
| Auteur: |
Wunstorf, R. Feick, H. Fretwurst, E. Lindström, G. Lutz, G. Osius, C. Richter, R.H. Rohe, T. Rolf, A. Schlichthärle, P. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 377 (1996) nr. 2-3 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elseiver Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 58 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |