|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 58 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on the N eff reverse annealing effect using TSC/I-DLTS: Relationship between neutron induced microscopic defects and silicon detector electrical degradations |
| Auteur: |
Li, Z. Li, C.J. Eremin, V. Verbitskaya, E. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 377 (1996) nr. 2-3 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elseiver Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 58 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |