|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 58 gevonden artikelen
| Titel: |
Defects at the Si/SiO2 interface: Their nature and behaviour in technological processes and stress |
| Auteur: |
Füssel, W. Schmidt, M. Angermann, H. Mende, G. Flietner, H. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 377 (1996) nr. 2-3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elseiver Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 58 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |