|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 64 van 67 gevonden artikelen
| Titel: |
Total reflection X-ray fluorescence analysis with synchrotron radiation monochromatized by multilayer structures |
| Auteur: |
Rieder, R. Wobrauschek, P. Ladisich, W. Streli, C. Aiginger, H. Garbe, S. Gaul, G. Knöchel, A. Lechtenberg, F. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 355 (1995) nr. 2-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 64 van 67 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |