|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and quality control of silicon microstrip detectors with an infrared diode laser system |
| Auteur: |
Shaheen, S. Boissevain, J. Collier, W. Jacak, B.V. Lock, J.S. Roybal, P. Simon-Gillo, J. Sondheim, W. Sullivan, J.P. Ziock, H. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 352 (1995) nr. 3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |