|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Radiation hardness tests with a demonstrator preamplifier circuit manufactured in silicon on sapphire (SOS) VLSI technology |
| Auteur: |
Bingefors, Nils Ekelöf, Tord Eriksson, Christer Mörk, Göran Paulsson, Magnus Sjölund, Anders |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 316 (1992) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |