|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 50 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
Test of radiation hardness of CMOS transistors under neutron irradiation |
| Auteur: |
Sadrozinski, H.F.-W. Rowe, W.A. Seiden, A. Spencer, E. Hoffman, C.M. Holtkamp, D. Kinnison, W.W. Sommer, W.F. Ziock, H.J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 288 (1990) nr. 1 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1990 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 50 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |