|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation analysis of the pinned photodiode CMOS image sensors induced by energetic proton radiation |
| Auteur: |
Wang, Zujun Xue, Yuanyuan Wang, Zhongming Chen, Wei Yin, Liyuan Wang, Xinghong Nie, Xu Lai, Shankun Huang, Gang Wang, Maocheng Ding, Lili He, Baoping Ma, Wuying Gou, Shilong |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 1058 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |