|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 118 gevonden artikelen
| Titel: |
Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process |
| Auteur: |
Aglieri Rinella, Gianluca Andronic, Anton Antonelli, Matias Aresti, Mauro Baccomi, Roberto Becht, Pascal Beole, Stefania Braach, Justus Buckland, Matthew Daniel Buschmann, Eric Camerini, Paolo Carnesecchi, Francesca Cecconi, Leonardo Charbon, Edoardo Contin, Giacomo Dannheim, Dominik de Melo, Joao Deng, Wenjing di Mauro, Antonello Hasenbichler, Jan Hillemanns, Hartmut Hong, Geun Hee Isakov, Artem Junique, Antoine Kluge, Alex Kotliarov, Artem Křížek, Filip Lautner, Lukas Mager, Magnus Marras, Davide Martinengo, Paolo Masciocchi, Silvia Menzel, Marius Wilm Munker, Magdalena Piro, Francesco Rachevski, Alexandre Rebane, Karoliina Reidt, Felix Russo, Roberto Sanna, Isabella Sarritzu, Valerio Senyukov, Serhiy Snoeys, Walter Sonneveld, Jory Šuljić, Miljenko Svihra, Peter Tiltmann, Nicolas Usai, Gianluca Van Beelen, Jacob Bastiaan Vassilev, Mirella Dimitrova Vernieri, Caterina Villani, Anna |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
| Paginering: | Jaargang 1056 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 118 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |