|
Bias polarization characterization of Al/CdTe/Pt Schottky X-ray detector for industrial applications |
|
|
|
Titel: |
Bias polarization characterization of Al/CdTe/Pt Schottky X-ray detector for industrial applications |
Auteur: |
Distefano, P. Maraschi, M. Macera, D. Garavelli, B. Sammartini, M. Bertuccio, G. Ghiringhelli, G. |
Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment |
Paginering: |
Jaargang 1019 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2021 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|