|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 66 van 143 gevonden artikelen
| Titel: |
Fourier transform-ion cyclotron resonance mass spectrometry — A new tool for measuring highly charged ions in an electron beam ion trap |
| Auteur: |
Beiersdorfer, P. Becker, St. Beck, B. Elliott, S. Widmann, K. Schweikhard, L. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 98 (1995) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 66 van 143 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |